PCB探針臺(tái)
PCB探針臺(tái) DLB-800-700 適用于PCB測(cè)試 實(shí)現(xiàn)PCB產(chǎn)品的阻抗、DELAY、延時(shí)差、插損、回?fù)p等S參數(shù)測(cè)試 適用產(chǎn)業(yè):TFT-LCD產(chǎn)業(yè),STN-LCD產(chǎn)業(yè),OLED產(chǎn)業(yè),半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),光電廠,PCB廠
高壓夾具
CINDBEST 高壓夾具 有3kv,5kv,10kv可選 線長(zhǎng)1.8m 接頭有三軸，同軸，香蕉頭可選
大電流夾具
CindbestCBHC-200 大電流夾具 最大電壓:500V 工作溫度范圍：-55℃至300℃
全自動(dòng)晶圓探針臺(tái)
適應(yīng)4~12寸晶圓測(cè)可提供高低溫、高電壓、低漏電等不同測(cè)試環(huán)境配置； 設(shè)備簡(jiǎn)單易用、性能穩(wěn)定，具備高度、高效率、低振動(dòng)和低噪聲。
CP300半自動(dòng)探針臺(tái)
CP300系列|300mm半自動(dòng)探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試； 操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能； 與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試。
CRX-SM低溫超導(dǎo)真空探針臺(tái)
溫度范圍8K-300K； 應(yīng)用領(lǐng)域包括：IV/CV/微波/光電實(shí)驗(yàn)測(cè)試/超導(dǎo)垂直磁場(chǎng)測(cè)量/低溫測(cè)試； 允許非監(jiān)督降溫：不需要用戶一直監(jiān)視就可以降溫冷卻； 研究者可通過它來執(zhí)行霍爾測(cè)量和磁輸運(yùn)測(cè)量。
CRX-閉循環(huán)低溫探針臺(tái)
溫度范圍4.5K-350K； 應(yīng)用領(lǐng)域包括：IV/CV/微波/光電實(shí)驗(yàn)測(cè)試/超導(dǎo)垂直磁場(chǎng)測(cè)量/低溫測(cè)試； 允許非監(jiān)督降溫：不需要用戶一直監(jiān)視就可以降溫冷卻； CRX低溫探針臺(tái)無需制冷劑，樣品臺(tái)最低溫度可到4.5K。
CS-4小型探針臺(tái)
CS系列探針臺(tái)最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等。
CM-4簡(jiǎn)易探針臺(tái)
CM系列探針臺(tái)可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等； 外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠。
CL-6系列中端探針臺(tái)
CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用。
