普賽斯 S300
S系列數字源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態范圍、數宇觸摸的率先國產化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，最大輸出電壓達300V，最小電流分辨率10pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機材料與納米材料等特性測試和分析。
FS-Pro半導體參數測試儀
√一體化測試 √超快速 √模塊化架構 √操作便捷 √獨具特色的1/f噪聲測試能力
美國newwave激光器
QuikLaze50ST2 QuikLaze50ST2isatooldesignedspecificallyforquick,easyremovalofavarietyofmaterials.Multiple,user-selectablewavelengthsprovidethecapabilitytoselectivelyremovecertainmaterialswhile
日本HOYA激光器
LaserSystemsHSL-4000IISeries/HSL-5000IISeries
激光開蓋系統，激光開封機
*使用激光燒蝕技術 *可開異形形狀無需治具 *高重復性 *一致性設計 *無需使用酸開封 *激光安全等級高
氣體放電與等離子體診斷儀
SSV-40型氣體放電與等離子體診斷儀由東北大學真空與流體工程研究所教授團隊研究開發，面向全國各高校。 整套設備包括朗繆爾探針、氣體放電管、測量系統、真空系統、進氣系統等部分組成。 朗繆爾探針、工作電壓、工作氣壓、氣體流量等部分均可獨立控制并且自由調節。
壓電馬達，納米級位移臺
壓電馬達驅動的位移臺特點： 1、長行程，理論上無行程限制 2、超高精度，可迖10納米 3、無回程間隙，具內秉剎車功能 4、無磁，無油，無電磁干擾，真空兼容 5、快速，速度迖300毫米/秒 6、超薄設計，結構緊湊
EMMI測試系統
EMMI光子微漏電定位分析系統設備是集成電路失效分析中的重要分析工具，漏電定位對于失效分析者而言是必備工具。在集成電路行業中，對集成電路可靠性要求很高。芯片在工作中，微漏電現象較為普遍，微弱漏電在極端情況下往往會無限放大，造成芯片甚至整個控制系統失效，所以芯片微漏電現象是對于集成電路失效分析中極端重要的一環。 針對寬禁帶半導體（如GaN與SiC）器件失效分析，森東寶科技有限公司推
三軸公轉三軸母轉接頭
美國Emerson原裝進口三軸母轉同軸公轉接頭/連接器
三軸母轉三軸母轉接頭
美國Trompeter原裝進口三軸母轉三軸母可夾板轉接頭/連接器。
