全自動晶圓探針臺
適應(yīng)4~12寸晶圓測可提供高低溫、高電壓、低漏電等不同測試環(huán)境配置； 設(shè)備簡單易用、性能穩(wěn)定，具備高度、高效率、低振動和低噪聲。
CP300半自動探針臺
CP300系列|300mm半自動探針臺能對晶片實現(xiàn)自動對位測試； 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能； 與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能測試。
CP200半自動探針臺
CP200系列|200mm半自動探針臺能對晶片實現(xiàn)自動對位測試 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能； 與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能測試。
