CH-8-D 雙面探針臺
CINDBESTCH-8-D雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備；該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能；可廣泛應用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。
CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統
最大可用于12英寸以內樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等。
CH-12 綜合性分析探針臺測試系統
CT-6高低溫探針臺
最大可用于12英寸以內樣品測試； 采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。
CGO-高低溫真空探針臺
溫度范圍77K-675K(液氮)； 可應用于真空及常規環境； 超高溫度分辨率； 特殊客制低溫系統； 具有極高穩定性。
CP200半自動探針臺
CP200系列|200mm半自動探針臺能對晶片實現自動對位測試 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能； 與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試。
低溫陶瓷探針
•標準陶瓷探針 •探針末端角度120° •用于高低溫測試
EasyZoom超景深數碼顯微鏡
得益于自主研發的先進光學系統，MoticEasyZoom系列超景深數碼顯微鏡可輕松拍出高質 量圖像。 強大的多功能物鏡，高精度的數碼技術結合HDR圖像處理技術創造出一個非常優化的觀察 系統。通過消除過強的反射光線，只需一鍵便可以讓超高精細的照片呈現在用戶面前。
0.5um精度探針座
適用于I-V/C-V/RF/亞微米級測試測試的定位器
0.7μm精度探針座
亞微米級測試
